1月8日,三星已完成对去年10月一起Galaxy Ring智能戒指异常鼓包事件的调查。经确认,该问题系设备内部封装层开裂所致,公司评估认为,该情况不构成产品普遍性的电池安全风险。
事件最初由一位科技领域博主公开披露。其表示,在一次准备登机时,佩戴在手指上的Galaxy Ring突然出现电池鼓包现象,导致剧烈不适且无法自行取下。由于情况紧急,他被拒绝登机并前往医疗机构求助。医护人员通过对手指进行消肿处理后,才成功将设备拆除。他在社交平台发布的一张照片显示,戒指内侧外壳已发生明显分离,引发外界对产品安全性的关注。
事件发生后,三星立即启动调查程序。根据最新信息,此次调查同时包含企业内部技术检测与独立第三方机构的专业分析,两项评估最终得出相同结论。
三星在向当事人出具的正式说明中指出:用户安全始终是我们最重视的原则。在整个调查过程中,公司与其保持了持续沟通。经内部实验室与外部专业机构联合检测,确认该设备出现的鼓包现象源于内部封装层开裂,属个别案例,不影响整体产品线的安全性。Galaxy Ring在设计之初即以耐用性为关键考量,适用于日常长期佩戴。
据后续补充说明,尽管目前尚无法完全确定封装层开裂的具体成因,但三星强调,现有数据不支持该问题具有广泛性,亦无证据表明该系列产品存在系统性电池安全缺陷。
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